物理原子吸收

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特克特朗公司生产的CRA系列。,石墨炉的根本构造包括:石墨管杯(graphite tube)、炉体保护气系统、电源等三局部组成。工作是经历枯燥(dryness)、灰化(incineration)、原子化和净化(depuration)等四个阶段,即完成一次分析过程。,为防止石墨的高温氧化作用,减少记忆效应,保护已热解的原子蒸气不在被氧化,可及时排泄分析过程中的烟雾,因此在石墨炉加热过程中除原子化阶段内内气路停气之外需要有足量12升/分的惰性气体作保护。通常使用的惰性气体主要是氩气、氮气。整个炉体有水冷却保护装置,如水温为200 C时,水的流量12升/分,炉子切断电源停顿加热,在2030秒内,即可冷却到室温。,(四)其它原子化法,低温原子化法又称化学原子化法,其原子化温度为室温至摄氏数百度。常用的有汞低温原子化法及氢化法。,汞低温原子化法,汞在室温下,有一定的蒸气压,沸点为357 C 。只要对试样进展化学预处理复原出汞原子,由载气Ar或N2将汞蒸气送入吸收池内测定。,氢化物原子化法,适用于Ge、Sn、Pb、As、Sb、Bi、Se和Te等元素。在一定的酸度下,将被测元素复原成极易挥发与分解的氢化物,如AsH3 、SnH4 、BiH3等。这些氢化物经载气送入石英管后,进展原子化与测定。,四、分光系统,单光束光路的特点:简单、价廉、维修方便、用方波供电方式可消除光源波动的影响,满足一般分析要求。但背景无法进展准确校正。,双光束光路的特点:精细、价高、能较彻底消除背景的干扰,稳定性好,满足高精度分析要求,便于接石墨炉原子化或其它原子化器,灵活性好。,五、检测系统,光电倍增管、微电流放大器、对数转换电路、数模转换电路及信息采集、显示器组成。,配制一组含有不同浓度被测元素的标准溶液,在与试样测定完全一样的条件下,按浓度由低到高的顺序测定吸光度值。绘制吸光度对浓度的校准曲线。测定试样的吸光度,从校准曲线上用内插法求出被测元素的含量。,8-4 原子吸收定量分析,一、标准曲线法,A,C,C,x,A,x,O,Calibration curve of AAS,Problem:,使用工作曲线时应该考虑那些因素?,二、标准参加法,分取几份一样量的被测试液,分别参加不同量的被测元素的标准溶液,其中一份不加被测元素的标准溶液,最后稀释至一样体积,使参加的标准溶液浓度为0,CS、2CS 、3CS ,然后分别测定它们的吸光度,绘制吸光度对浓度的校准曲线,再将该曲线外推至与浓度轴相交。交点至坐标原点的距离Cx 即是被测元素经稀释后的浓度。,8-5 原子吸收定量分析干扰因素,原子吸收光谱法的主要干扰有物理干扰、化学干扰、光谱干扰、电离干扰、和背景干扰等。,一、物理干扰,物理干扰是指试液与标准溶液 物理性质有差异而产生的干扰。如粘度、外表张力或溶液的密度等的变化,影响样品的雾化和气溶胶到达火焰传送等引起原子吸收强度的变化而引起的干扰。,消除方法:配制与被测试样组成相近的标准溶液或采用标准参加法。假设试样溶液的浓度高,还可采用稀释法。,二、化学干扰Chemical interference,化学干扰是由于被测元素原子与共存组份发生化学反响生成稳定的化合物,影响被测元素的原子化,而引起的干扰。,消除化学干扰的方法:,1选择适宜的原子化方法,提高原子化温度,减小化学干扰。使用高温火焰或提高石墨炉原子化温度,可使难离解的化合物分解。,采用复原性强的火焰与石墨炉原子化法,可使难离解的氧化物复原、分解。,2参加释放剂(releasing agent),释放剂的作用是释放剂与干扰物质能生成比被测元素更稳定的化合物,使被测元素释放出来。,例如,磷酸根干扰钙的测定,可在试液中参加镧、锶盐,镧、锶与磷酸根首先生成比钙更稳定的磷酸盐,就相当于把钙释放出来。,3参加保护剂(projective agent),保护剂作用是它可与被测元素生成易分解的或更稳定的配合物,防止被测元素与干扰组份生成难离解的化合物。保护剂一般是有机配合剂。例如,EDTA、8-羟基喹啉。,4参加消电离剂(ionization buffer),消电离剂是比被测元素电离电位低的元素,一样条件下消电离剂首先电离,产生大量的电子,抑制被测元素的电离。,例如,测钙时可参加过量的KCl溶液消除电离干扰。钙的电离电位为6.1eV,钾的电离电位为4.3eV。由于K电离使钙离子得到电子而生成原子。,(5) 缓冲剂(buffer agent),于试样与标准溶液中均参加超过缓冲量(即干扰不再变化的最低限量)的干扰元素。如在用乙炔氧化亚氮火 焰测钛时,可在试样和标准溶液中均参加200ppm以上的铝,使铝 对钛的干扰趋于稳定。,6参加基体改进剂,对于石墨炉原子化法,在试样中参加基体改进剂,使其在枯燥或灰化阶段与试样发生化学变化,其结果可以增加基体的挥发性或改变被测元素的挥发性,以消除干扰。,三、光谱干扰spectral interference,光源在单色器的光谱通带内存在与分析线相邻的其它谱线, 可能有下述两种情况:,1.1. 与分析线相邻的是待测元素的谱线。,这种情况常见于多谱线元素(如Ni、Co、Fe)。,减小狭缝宽度可改善或消除这种影响。,1.2. 与分析线相邻的是非待测元素的谱线。,如果此谱线是该元素的非吸收线,同样会使欲测元素的灵敏度下降,工作曲线弯曲;如果此谱线是该元素的吸收线,而试样中又含有此元素 时,将产生“假吸收,产生正误差。这种干扰主要是由于空心阴极灯的阴极材料不纯等,且常见于多元素 灯。假设选用具有适宜惰性气体,纯度又较高的单元素灯即可防止干扰。,1.3 空心阴极灯中有连续背景发射,主要来自灯内杂质气体或阴极上的氧化物。连续 背景的发射不仅使灵敏度降低,工作曲线弯曲,而且当试样中共存元素的吸收线处于连续背景的发射区时有可能产生假吸收。因 此不能使用有严重连续背景发射的灯。灯的连续背景发射是由于 灯的制作不良,或长朗不用而引起的。可将灯反接,并用大电流空点,以纯化灯内气体,经过这样处理后,情况可能会改善。否那么应更换新灯。,2. 与共存元素的光谱线重叠引起的干扰,选用待测元素的其它光谱线作为分析线,或者别离干扰来消除干扰。,3. 与原子化器有关的干扰,3.1 原子化器的发射,来自火焰本身或原子蒸气中待测元素的发射。,当仪器采用调制方式进展工作时,这一影响可得到减免。如果干扰仍然存在,那么可适当增加灯电流,提高光源发射强度来改善倍噪比。,3.2 背景吸收(分子吸收),来自原子化器(火焰或 无火焰)的一种光谱干扰。它是由气态分子对光的吸收以及高浓度盐的固体微粒对光的散射所引起的。它是一种宽频带吸收。(包括 火焰本体吸收、金属盐颗粒吸收、光散射损失,四、背景校正方法,1、氘灯校正法,D,2,lamp background correction,连续光源用氘灯在紫外区;碘钨灯、,氙灯在可见区扣除背景。,2、塞曼效应校正法,Zeeman effect background correction, 原子吸收测定条件,1、分析线的选择,2、空心阴极灯电流选择,3、火焰类型的选择,4、燃烧器高度的选择,5、狭缝宽度的选择, 灵敏度、特征浓度及检出限,1. 灵敏度及特征浓度,当待测元素的浓度c 或质量m改变一个单位时。吸光度A的变化量。在AAS中,常用特征浓度或特征质量来表示灵敏度。,S =,dA,dc,S =,dA,dm,Or,特征浓度: 产生1%的吸收或0.0044吸光度值时溶液中待测元素的质量浓度m-1/1%或质量分数(m-1/1%).,C0 = CX0.0044 / A -3,CX表示待测元素的浓度;A为屡次测量的吸光度值。,例如,1mg.g-1的镁溶液,测得其吸光度为 0.55,那么镁的特征浓度为:,-1/1%,特征质量:产生1%的吸收或0.0044吸光度值时溶液中待测元素的质量g/1%,在石墨炉原子化法中应用较为普遍。,m0S Pg或ng,检出限:产生一个能够确证在试样中存在某元素的分析信号所需要的该元素的最小含量,绝对检出限那么用m表示。 检出限比灵敏度具有更明确的意义,它考虑到了噪声的影响,并明确地指出了测定的可靠程度。由此可见,降低噪声,提高 测定精细度是改善捡测极限的有效途径。,灵敏度的影响因素:,待测元素本身的性质:,如难熔元素的灵敏度比普通元素灵敏,度要低得多。,测定仪器的性能:,如单色器的分辨率、光源的特性、检测,器的灵敏度等有关。,实验因素的影响:,如雾化器效率等,谢谢观赏,
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