平面测量与调整

Klicka hr fr att ndra format p bakgrundsrubriken,Klicka hr fr att ndra format p bakgrundstexten,Niv tv,Niv tre,Niv fyra,Niv fem,*,1,几何测量,直线,“Having the same direction throughout its length; not crooked or wavy” (Websters),平面,“A surface that wholly contains every straight line joining any two points on it”,直角,“Having two straight sides that form a 90 angle”,平行,“Lines, curves or surfaces with equal distance from each other at all points and having the same direction or curvature”,2,平面,3 点为基准,水平,3,问题在哪里?,1,电置零,2,机械置零,3,机械置零,花费大量时间是精调,(buck-in),基准面为零,4,平面软件,5,软件计算,原始数值,/,激光扫描的平面,Distance x angle,0,0,0,测量表面,计算的基准平面,6,平面 - 3 点为基准,安装仪器,定义测点,粗调激光平面,定义应用设置,输入距离,记录测点,评价结果,执行调整,结果文档化,过程:,7,平面 - 3 点为基准,安装仪器,T220,激光器的放置，固定,T210,8,平面 - 3 点为基准,接收器,安装仪器,:,TD-M,R 210,9,平面 - 3 点为基准,定义测点,标记并取名测点，依照平面软件形状,(A1, A2 etc.),矩形,圆形,10,平面 - 3 点为基准,粗调,粗调激光平面在被测面上平行三个基准点,.,用激光束调整(,buck-in ),过程, 直至激光射在三个基准点的靶心,.,11,平面 - 3 点为基准,粗调过程,放置接收器在第1个基准点,旋转激光器直至激光射在接收器的标靶上,.,调整接收器的高度直至激光射在标靶中心,.,12,平面 - 3 点为基准,粗调过程,放置接收器在第二个基准点,.,转动激光直至激光射在接收器的标靶,.,用微调旋钮调整角度直至激光射入靶心,(Tip:,use the quick buck-in procedure,).,重复此过程,直至激光射在两个基准点的靶心,.,13,平面 - 3 点为基准,粗调过程,放置接收器在第三个基准点,(90,度).,转动激光直至激光射在接收器的标靶,.,用第二微调旋钮调整角度直至激光射入靶心,.,重复此过程,直至激光射在全部基准点的靶心,.,14,平面 - 3 点为基准,选择分辨率,重复性测试,设置采样时间,设置屏幕过滤,设置允差值,(Set + or - values only),选择标准或反向的刻度在设置2窗口,选择外形,定义应用设置,15,平面 - 3 点为基准,放置接收器在距激光器的最远点,.,连接接收器与显示器,启动直线程序,.,确认接收器有信号,.,定义应用设置,重复性测试,:,16,平面 - 3 点为基准,定义应用设置,在工具设置菜单内进入重复性测试程序,17,平面 - 3 点为基准,定义应用设置,开始重复性测试,.,程序将显示5次测量值的差值,设置采样时间，制止重复性满意为止,18,平面 - 3 点为基准,输入距离,选择外形和输入距离,19,平面 - 3 点为基准,输入距离,矩形结构,11,x11=121,点, 通过输入距离来选择测点数量,等间距,-,输入最后的距离,在被确认以前,距离能被改变或删除,删除距离,-,输入 0,Distances beyond the entered 0 will also be removed,Scroll function,Confirm configuration,20,平面 - 3 点为基准,输入距离,圆形结构,3 个圆环,在每一个环上,有16个测点,.,输入环的直径和在环上测点数,.,完成后按触,OK ,然后测量屏幕间被打开,.,21,平面 - 3 点为基准,记录测量值,放置接收器在第1个测点,瞄准并移开标靶,.,在屏幕上按触相应的测点,打开记录屏幕,.,22,平面 - 3 点为基准,记录测量值,上一个点重测,选择作为基准,删除全部基准,23,平面 - 3 点为基准,记录测量值,在每一个测点上记录数值,.,在最后一个测点, 按触,OK,结束记录状态,.,Scroll,Summary screen,24,平面 - 3 点为基准,记录测量值,-summary screen,在每一个测点上记录数值,.,在最后一个测点, 按触,OK,结束记录状态,.,返回详图状态,测点列表,25,平面 - 3 点为基准,记录测量值,-,圆形,26,平面 - 3 点为基准,评价结果,27,平面 - 3 点为基准,评价结果,-,圆形,28,平面 - 3 点为基准,执行调整,移放接收器于要被调整的测点,.,确认光束落入探测器的范围之中,.,在详图屏中按触被调整的点,.,29,平面 - 3 点为基准,执行调整,按触调整键,.,被选择点的数值将随调整的变化而变化,.,调整为零. 零意味是与被选择的基准面一致,.,当完成调整，按触记录图标,.,30,平面 - 3 点为基准,执行调整,按触,OK,确认调整数值,.,程序返回详图屏幕,.,Note:,如果被调整的测点影响其它邻近的测点 ,那么所有的测点应重测,.,31,平面 - 3 点为基准,结果文档化,按触存储键存储测量值,可打印输出,可将存储的测量值传入,PC,32,平面 - 3 点为基准,存储管理器,33,平面 - 水平（准）测量,用重力为基准,34,平面 - 水平（准）,安装仪器,定义测点,建立基准,*,定义应用设置,记录测量值,评价结果,执行调整,结果文档化,过程,:,35,平面 - 水平（准）,建立基准,Micrometer screws,Micromete scew,Spirit levels,The difference to the method with 3 points as reference is the way to establish the reference.,36,平面 - 水平（准）,记录测量值,第1点为基准,37,