地层密度测井

,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,地层密度测井,一、密度测井的基本原理,图8-3是常用的一种密度测井仪器示意图，该仪器包括有一个,伽马源,，两个接受伽马射线的探测器，即,长源距探测器,和,短源距探测器,。他们安装在滑板上，测井是被推靠到井壁上。在下井仪器的上方装有辅助电子线路。,通常用 作伽马源，它发射的伽马射线具有中等能量（0.661MeV）,用它照射物质只能产生康普顿散射和光电效应。由于,地层的密度不同，则对伽马光子的散射和吸收的能力不同，探测器接受到的伽马光子的计数率也就不同,。我们已知通过距离为L的伽马光子的计数率为：,若只存在康普顿散射，则 即为康普顿散射吸收系数，所以：,由于沉积岩的Z/A 0.5，故,1,两边取对数，则得：,其中： 为常数。,可见探测器在记录的计数率N在半对数坐标系上与 和L呈,线性关系,，图8-4是两种源距下的 与计数率N的关系曲线图。源距选定后，对仪器进行刻度找到 和N的这种关系，则记录散射伽马光子计数率N就可以测得地层密度。,当井壁上有泥饼存在，且泥饼的密度与地层的密度不同时，泥饼对测量值有一定的影响，如图8-5所示。,在地层密度大于泥饼密度的情况下，如果泥饼厚度增大，则在密度相同的地层中，伽马光子计数率增大。,2,为了补偿泥饼的影响，密度测井采用两个探测器（长源距和短源距），得到两个计数率 和 ，利用长源距计数率 得到一个视地层密度 ，再由 和 得到一个泥饼影响校正值 ，则地层密度,，密度测井同时输出 和 两条曲线。密度测井还可以输出石灰岩孔隙度测井曲线，因为测量使用的仪器是在饱含淡水的石灰岩地层中刻度的。图8-6是密度测井曲线图。,3,如右图，是密度测井曲线图，它同时输出密度曲线、泥饼校正值曲线。密度测井还可以输出石灰岩孔隙度曲线，因为测量使用的仪器是在饱含淡水的石灰岩地层中刻度的。,4,二、密度测井资料的应用,、识别气层，判断岩性,密度测井和中子测井曲线重叠可以识别气层，判断岩性。,、确定岩性求孔隙度,密度中子测井交会图法，可以确定岩性求解孔隙度。,、,确定岩石的孔隙度,在已知岩性和孔隙流体的情况下,，就可以由密度测井的测量值求纯岩石的孔隙度。它可以由公式计算，也可以应用图版求取。典型的泥岩和泥岩夹层的密度为2.2-2.65克/立方厘米。,通常泥岩和储集层中泥质的密度较岩石骨架的密度小，所以在求含泥质地层的孔隙度时，应考虑泥质影响，否则求出的孔隙度偏大。,5,6,