压力容器超声波问答题

问答题1、何谓超声波？它有哪些重要特性？答：频率高于 20000HZ 的机械波称为超声波。重要特性：一是可定向发射，在介质中沿直线传播且具有良好的指向性；二 是的能量高；三是在界面上能产生反射、折射和波型转换；四是穿透 能力强。2、产生超声波的必要条件是什么？ 答：一是要有作超声振动的波源（如探头中的晶片）；二是要有 能传播超声振动的弹性介质（如受检工件或试块）。3、液体中为什么只能传播纵波，不能传播横波？ 答：凡能承受拉伸或压缩应力的介质都能传播纵波，液体虽然不 能承受拉伸应力，但能承受压应力而产生容积变化，故液体介质可传 播纵波。介质传播横波时，介质质点受到交变的剪切应力作用，液体介质 不能承受剪切应力，故横波不能在液体中传播。4、简述影响超声波的介质中传播速度的因素有哪些？ 答：（1）超声波在介质中的传播速度与介质的弹性模量和介质的 密度有关。对一定的介质，弹性模量和密度为常数，故声速也是常数。 不同介质，声速不同。（2）超声波波型不同时，声速也不一样。同一 介质，传播不同类型声波时，声速也不相同。（3）介质尺寸大小及介 质温度对声速也有一定影响。5、简述波的叠加原理？答：（1）当几列波在同一介质中传播并相遇时，相遇处质点的振 动是各列法引起的分振动的合成，任一时刻该质点的位移是各列波引 起的分位移的矢量知。（2）相遇后的各列波仍保持它们各自原有的特 性（频率、波长、振动方向等）不变，并按照各自原来的传播方向继 续前进。（3）波的叠加原理描述了波的独立性，及质点受到几个波同 时作用时的振动的叠加性。6、何谓波的干涉现象？什么情况下合成振幅最大？什么情况下 合成振幅最小？答：（1）两列频率相同，振动方向相同，相位相同或相位差恒定 的波相遇时，由于波叠加的结果，会使某些地方的振动始终互相加强， 而另一些地方的振动始终互相减弱或完全抵消，这种现象称为波的干 涉，产生干涉现象的波称为相干波。干涉现象的产生是相干波传播到 空间各点时波程不同所致。（2）当波程差等于波长的整数倍时，合成 振幅达最大值。（3）当波程差等于半波长的奇数倍时，合成振幅达最 小值。7、何谓驻波？为什么通常取晶片厚度等于半波长？ 答：（1）两列振幅相同的相干波，在同一直线上相向传播时互相 叠加而成的波，称为驻波。（2）当介质厚度等于半波长整数倍时，会 产生驻波。所以取晶片厚度上=入/2可以形成驻波，产生共振，使合成入振幅最大，有利于提高探头辐射超声波的效率。8、何谓绕射？绕射现象的发生与哪些因素有关？ 答：波在传播过程中遇到障碍物时，能绕过障碍物的边缘继续前进的现象，称为波的绕射（衍射）。绕射的产生与障碍物的尺寸D和波长入的相对大小有关。1入D 入时，几种只反射，无绕射。1入D 与入相当时，既反射又绕射。1入9、什么是惠更斯原理？它有什么作用？ 答：惠更斯原理：介质中波动传播到的各点都可以看作是发射子波的波源，其后任意时刻这些子波的包迹就是新的波阵面。利用惠更斯原理，可以确定不同波源辐射的声波的形状和波的传 播方向，可以解释声波在均匀和非均匀介质中传播的许多现象。10、何谓超声场？超声场的特征量有哪些？ 答：充满超声波的空间或超声振动所波及的部分介质，称为超声场。描述超声场的物理量即特征量有声压、声强和声阻抗。 声压：超声场中某一点在某一瞬时所具有的压强 P1 与没有超声 波存在时同一点的静压强P0之差，称为该点的声压。P=P1-P0。声强：单位时间内通过与超声波传播方向垂直的单位面积的声 能，称为声强，常用I表示。声阻抗：介质中某一点的声压P与该质点振动速度V之比，称为 声阻抗，常用Z表示，Z=P/V,声阻抗在数值上等于介质的密度p与 介质中声速C的乘积。Z=p.C。11、超声波垂直入射到两侧介质不同（Z1工Z3 ）的异质薄层（Z2 ） 时，（如探头保护膜），什么情况下声压往复透过率最高？答：（ 1）当薄层厚度等于入 2/4 的奇数倍，薄层介质声阻抗为其入2两侧介质声阻抗几何平均值时，即Z2=根号内Z1.Z3，声压往复透过率等于 1，声小全透射。(2) 当薄层厚度入2/4时，薄层愈薄，声压往复透过率愈大。入212、什么是波型转换？波型转换的发生与哪些因素有关？答：( 1)超声波入射到异质界面时，除产生入射波同类型的反射 和折射波外，还会产生与入射波不同类型的反射或折射波，这种现象 称为波型转换。( 2)波型转换只发生在倾斜入射的场合，且与界面两侧介质的 状态(液、固、气态)有关。13、什么是端角反射？它有什么特征？答：( 1)超声波在工件(或试样)的两个互相垂直的平面构成的 直角内的反射，称为端角反射。( 2)端角反射中，同类型的反射波和入射波总是互相平行方向 相反。端角反射中，产生波型转换，不同类型的反射波和入射波互相不 平行。纵波入射时，端角反射率在很大范围内很低。 横波入射时，入射角在30度及60 度附近，端角反射率最低。 入射角在 35度55 度时，端角反射率高。14、什么是超声波的衰减？引起超声衰减的主要原因有哪些？ 答：超声波在介质中传播时，随着传播距离的增加，超声波的能 量逐渐减弱的现象称为超声波的衰减。衰减的主要原因：( 1 )扩散衰减：由于声速的扩散，随着传播距离的增加，波束 截面愈来愈大，从而使单位面积上的能量逐渐减少。这种衰减叫扩散 衰减。扩散衰减主要取决于波阵面的几何形状，与传播介质的性质无 关。( 2)散射衰减：超声波在传播过程中，遇到由不同声阻抗介质 组成的界面时，发生散射(反射、折射或波型转换)，使声波原传播 方向上的能量减少。这种衰减称为散射衰减。材料中晶粒粗大(和波长相比)是引起散射衰减的主要因素。( 3 )吸收衰减：超声波在介质中传播时，由于介质质点间的内 摩擦(粘滞性)和热传导等因素，使声能转换成其他能量(热量)。 这种衰减称为吸收衰减，又称粘滞衰减。散射衰减、吸收衰减与介质的性质有关，因此统称为材质衰减。15、何谓主声束？什么是声束的指向性？ 答：（1）声源正前方声能集中的锥形区域称为主声束。（2）声源辐射的超声波定向，集中辐射的性质称为声束指向性。16、简述探伤仪中，同步电路的主要作用？答：同步电路又称为触发电路，它每秒钟产生数十至数千个触发 脉冲，触发探伤仪的扫描电路，发射电路等，使之步调一致，有条不 紊的工作，因此，同步电路是整个探伤仪的指挥“中枢”。17、探伤仪发射电路中的阻尼电阻有什么作用？答：改变阻尼电阻 R0 的阻值可改变发射强度，阻值大，发射强 度高，发射的声能多。阻尼电阻阻值小，则发射强度低。但改变 R0 阻值也会改变探头电阻尼大小，影响分辨力。18、探伤仪的接收电路主要由哪几部分组成？“抑制”旋钮有什 么作用？答：（1）接收电路由衰减器，射频放大器，检波器和视频放大器 等几部分组成。（2）调节“抑制旋钮”可使低于某一电平的信号在荧光屏上不 予显示，从而减少荧光屏上的杂波。但使用“抑制”时，仪器的垂直线性和动态范围均会下降。19、什么是压电晶体？举例说明压电晶体分为几类？答：（1）某些晶体受到拉力或压力产生变形时，在晶体界面上出 现电荷的现象称为正压电效应。在电场的作用下，晶体发生弹性形变 的现象，称为逆压电效应。正、逆压电效应统称为压电效应。能够产 生压电效应的材料称为压电材料。由于它们多为非金属电介质晶体结 构，故又称为压电晶体。（2）压电晶体分为：单晶体：如硫酸锂等；多晶体：如钛酸铅 等。20、何谓压电材料的居里点？哪些情况要考虑它的影响？ 答：（1）当压电材料的温度达到一定值后，压电效应会自行消失， 称该温度值为材料的居里温度或居里点，用 TC 表示。同一压电晶体 有不同的上居里温度和下居里温度。不同的压电晶体，居里温度也不 一样。（2）对高温工件进行探伤时，应选用上居里点较高的压电晶片 制作探头。在寒冷地区探伤时，应选用下居里点较低的压电晶片作探 头。21、探头保护膜的作用是什么？对它有哪些要求？ 答：（1）保护膜加于探头压电晶片的前面，作用是保护压电晶片 和电极，防止其磨损和碰坏。（2）对保护膜的要求是：耐磨性好，强度高，材质衰减小，透 声性好，厚度合适。22、一个探头的标记为5I20SJ20DJ,试说明其中数字和字母的 含义？答：5：频率 5MHZ。I ：压电晶片材料碘酸锂单晶。20 ：圆晶片直径 20mm。SJ:水浸探头。20DJ ：点聚焦，水中焦距 20mm。23、声束聚焦有什么优点？简述聚焦探头的聚焦方法和聚焦形 式？答：（1）聚焦的声束，声能更为集中，中心轴线上的声压增强， 同时可改善声束指向性，对提高探伤灵敏度，分辨力和信噪比均为有 利。（2）聚焦方法：凹曲面晶片直接聚焦、反射式聚焦探头、采用 声透镜片聚焦。（3）聚焦形式：点聚焦和线聚焦。24、超声波探伤仪主要性能指标有哪些？ 答：探伤仪性能是指仅与仪器有关的性能，主要有水平线性、垂直线性和动态范围等。25、简述超声探伤系统主要性能指标有哪些？ 答：系统性能是仪器、电缆、探头特性的综合反映，即探伤仪和探头的组合性能，主要有信噪比、灵敏度余量、始波宽度、盲区和分 辨力。26、什么是底面多次回波法？该法主要用于哪些场合？ 答：依据底面回波次数，判断试件有无缺陷和缺陷严重程度的探伤法称为底面多次回波法。它常用于钢板超声波探伤。主要用于：（1）缺陷回波法不便实施，或要求检出灵敏度较低的场合。（2） 工件厚度不大，形状简单，探测面与底面平行的场合。（3）有时作为 辅助手段，配合缺陷回波或底面回波高度法判定缺陷情况。27、何谓耦合剂？简述影响耦合的因素有哪些？ 答：在探头与工件表面之间施加的一层透声介质，称为耦合剂。 影响耦合的主要因素有： 一是耦合层厚度；二是表面粗糙度；三是耦合剂声阻抗；四是工 件表面形状。28、什么叫探伤灵敏度？常用的调节探伤灵敏度的方法有几种？ 答：探伤灵敏度是指在确定的探测范围的最大声程处发现规定大 小缺陷的能力。有时也称为超始灵敏度或评定灵敏度。通常以标准反 射体的当量尺寸表示。实际探伤中，常常将灵敏度适当提高，后者则 称为扫查灵敏度或探测灵敏度。调节探伤灵敏度常用的方法有试块调节法和工件底波调节法。 试块调节法包括以试块上人工标准反射体调节和水试块底波调 节两种方式。工件底波调节法包括计算法，A.V.G曲线法，底面回波高度法等 多种方式。29、焊缝斜角探伤中，定位参数包括哪些主要内容？ 答:缺陷位臵的记录应包括下列各项:（1）缺陷位臵的纵坐标：沿焊缝方向缺陷位臵到焊缝探伤原点 或检验分段标记点的距离，记录时应规定出正方向。（2）缺陷深度：缺陷到探测面的垂直距离。（3）缺陷水平距离：缺陷在探测面上的投影点到探头入射点的 距离，也称作探头缺陷距离。有时以简化水平距离代之，即缺陷在探 测面上投影点到探头前沿的距离，亦称缺陷前沿距离。（4）探头焊缝距离：探头入射点到焊缝中心线的距离。（5）缺陷位臵的横坐标：缺陷在探测面上投影点到焊缝中心的 距离，记录时应规定的正方向。其数值可以从（ 3）（4）两参数之差 求得。实际探伤中，由于焊缝结构形式不同，缺陷定位时，可依据标准 或检验规程的要求，记录以上全部或部分参数。30、何谓缺陷定量？简述缺陷定量方法有几种？ 答：超声波探伤中，确定工件中缺陷的大小和数量，称为缺陷定量。缺陷的大小包括缺陷的面积和长度。缺陷的定量方法很多，常用的有当量法，底波高度法和测长法。31、什么是当量尺寸？缺陷的当量定量法有几种？ 答：将工件中自然缺陷的回波与同声程的某种标准反射体的回波 进行比较，两者的回波等高时，标准反射体的尺寸就是该自然缺陷的 当量尺寸。当量仅表示对声波的反射能力相当，并非尺寸相等。当量法包括：（1）试块比较法：将缺陷回波与试块上人工缺陷回波作比较对 缺陷定量的方法。（2）计算法：利用规则反射体的理论回波声压公式进行计算法 来确定缺陷定量尺寸的定量方法。（3）AVG 曲线法：利用通用 A.V.G 曲线或实用 AVG 曲线确定缺 陷当量尺寸的方法。32、什么是缺陷的指示长度？测定缺陷指示长度的方法分为哪 两大类？答:按规定的灵敏度基准。根据探头移动距离测定的缺陷长度称 为缺陷的指示长度。测定缺陷指示长度的方法分为相对灵敏度法和绝 对灵敏度法两大类。（1）相对灵敏度法：是以缺陷最高回波为相对基准。沿缺陷长 度方向移动探头，以缺陷波幅降低一定的db值的探头位置作为缺陷 边界来测定缺陷长度的方法。（2）绝对灵敏度法：是沿缺陷长度方向移动探头，以缺陷波幅 降到规定的测长灵敏度的探头位置作为缺陷边界来测定长度的方法。33、什么是缺陷定量的底波高度法？常用的方法有几种？ 答：底波高度法是利用缺陷波与底波之比来衡量缺陷相对大小的方法，也称作底波百分比法。底波高度法常用两种方法表示缺陷相对大小：F/B法和F/B法。G（1）F/B 法：是在一定灵敏度条件下，以缺陷波高 F 与缺陷处 底波高B之比来衡量缺陷相对大小的方法。（2）F/B 法：是在一定灵敏度条件下，以缺陷波高 F 与无缺陷G处底波高 B 之比来衡量缺陷相对大小的方法。G底波高度法只能比较缺陷的相对大小，不能给出缺陷的当量尺 寸。34、何谓钢板探伤的多次重合法？为什么一般不推荐采用一次重 合法？答：钢板水浸（或局部水浸）探伤时，为避免水层界面多次回波 与钢板多次底波相互干扰，调整水层厚度，使水层界面回波与某次钢 板底波重合，这种方法就称为多次重合法，当界面回波与钢板第二或 三、四次底波重合时，则分别称为二次或三、四次重合法。一次重合法时，界面各次回波分别与钢板底波一一重合。此时， 由于钢板底波的位臵经常有水层界面波存在。探伤过程中，难以观察 到钢板底波的衰减或消失情况，因而无法根据底波衰减或消失情况来 判定缺陷情况，所以一般不采用一次重合法探伤。35、简要说明钢板探伤中，引起底波消失的几种可能情况？ 答：（1）表面氧化皮与钢板结合不好。（2）近表面有大面积的缺陷。（3）钢板中有吸收性缺陷（如疏松或密集小夹层）。（4）钢板中有倾斜的大缺陷。36、简述钢板探伤中“叠加效应”形成的原因及回波变化特征？ 答：“叠加效应”多出现在板厚较薄，缺陷较小且位于板中心附近时。缺陷回波变化特征是：钢板各次底波前的缺陷多次回波Fl、F2、 F3、F4、F5.起始几次回波的波高逐渐升高，到某次回波后，波高 又逐渐降低。这种效应的出现是由于不同反射路径的声波互相叠加的 结果，随着缺陷回波次数的增加，回波路径逐渐增多，女亦2比F1多 3条路径，F3比F1多5条路径路径多，叠加能量多，故缺陷回波 逐渐升高，但路径进一步增加时，反射损失及衰减也增加，增加到一 定程度后，损失和衰减的声能将超过叠加效应。因此缺陷波升高到一 定程度后又逐渐降低。37、按JB/T4730-2005标准检验板厚T=12mm的钢板，如何选择 探头和调节探伤灵敏度？答：（1）选用频率5MHZ。晶片面积150mm2,双晶直探头。某探 头性能符合标准中附录A。（2）将探头置于阶梯试块板厚为12mm的台阶面上，把该底面第 一次底波高度调整到荧屏满刻度的 50%，再提高灵敏度 10db 作为探 伤灵敏度。此外，还应计入试块入被探钢板之间的表面耦合声能损失。38、按JB/T4730-2005标准的规定，对B150%, Fl亦很小的缺 陷，如何测定缺陷边界？答：这类缺陷测定边界时，应向缺陷区外移动探头，当钢板底面 第一次反射波高升到探伤灵敏度下荧光屏满刻度的50%时，探头中心 点即为缺陷的边界点。39、JB/T4730-2005 标准对缺陷的评定方法中依据哪些评定规 则？答：依据三条评定规划：（1）缺陷指示长度：一个缺陷按其指示的最大长度作为该缺陷 的指示长度。（2）单个缺陷指示面积：一个缺陷按其指示的最大面积作为该 缺陷的单个指示面积。多个缺陷其相邻间距小于100mm，或间距小于 相邻小缺陷的指示长度（取其较大值）。各块缺陷面积之和也作为单 个缺陷指示面积。（3）缺陷面积占有率：在任一 lmxlm探伤面积内，缺陷面积占 探伤面积的百分比。40、小口径钢管水浸探伤时，如何调节声束入射角度？ 答：小口径钢管水浸探伤时，是依靠调节偏心距来调整声束入射角的。偏心距是指探头声束轴线与管子中心轴线间的距离，常用X表 示。X与入射角8的关系是sin-=X/R，因此调节X值即能改变声束 入射角，为满足纯横波探伤，同时声束又能探测到管子内壁，X的调 节必须满足下列条件：C /C - RXC /C r。L1 L2 L1 S2式中：C :水中声速；/C、C /:钢中纵横波声速；r、R：管子 L1 L2 S2 的内外半径。41、小口径管水浸聚焦法探伤时，为什么一般要求声束在水中的 焦点要落在管子的中心轴线上？答：当聚焦声束在水中的焦点落在与声束轴线相垂直的管子中心 轴线上时，能使声束外边缘声线在钢管曲面上有相等的入射角，从而 可减小声束复盖面上各点的入射角差别，获得最佳入射条件。为获得这个最佳入射条件，应根据探头焦距（F）,管半径（R） 和偏心距（X）的数值，调节最佳水声程来实现。最佳水声程等于： H=F-根号内 R2-X2 o42、采用手工接触法检验钢管时,GB5777-1996标准有什么要求？ 答：（1）探头与工件表面应接触良好。（ 2）探伤灵敏度用人工标准试样调节，试样内外表面人工缺陷 的反射波幅应调节到等于荧屏满刻度的 50%到 100%之间。（ 3）每根钢管应从两个相反方向探伤一次。43、锻件探伤中，利用锻件底波调节探伤灵敏度有什么好处？对 锻件有何要求？答：(1)优点：一是可不考虑探伤面耦合差补偿；二是可不考虑 材质衰减差补偿；三是可不使用试块。(2)要求：一是工件厚度应大于3N;二是工件底面与探伤面平 行，如为曲面应进行修整；三是工件底面应光滑平整，且不得与其它 透声物质接触。44、锻件探伤中，什么情况下用当量法定量？当量法有几种？ 答：锻件探伤中，对于尺寸大小声束截面的缺陷一般用当量法定量。当量法分为试块比较法、计算法和 AVG 曲线法。当缺陷位于X3N区域，可用当量计算法或当量A VG曲线法 定量。45、按 JB3963-85 标准的定义，什么是密集缺陷？答：( 1)当荧光屏扫描线上相当于 50mm 声程范围内，同时有 5 个或 5 个以上的缺陷反射信号，或者(2)在50 x 50俪的探测面上发现同一深度范围内有5个或5个 以上的缺陷反射信号。46、按 JB3963-85 标准检验钢锻件时，如何记录密集性缺陷？如 何测定缺陷密集区面积？答：( 1)记录密集性缺陷中当量最大缺陷的位臵和分布。 饼形锻件：记录大于等于直径 4mm 当量直径的缺陷密集区。 其它锻件：记录大于等于直径 3mm 当量直径的缺陷密集区。( 2)缺陷密集区的边界采用半波高度法测定。密集区的面积以 50 x 50俪的方块为最小量度单位。47、何谓三角反射法？它有什么特征？ 答：用纵波直探头径向探测实心圆柱体锻件或棒材时，由于探头平面与柱面接触面小，声束扩散角增大，拉散声束在圆柱面上形成三 角反射路径，从而在荧光屏上位臵出现反射波，这种波即称为三角反 射波。三角反射波一般有二次，均出现在第一次底波 B1 之后，且位 臵是固定的，一次是纵波扩散声束在圆柱面上不发生波形转换，形成 等边三角形反射，如圆柱体直径为d,则这一反射波声程为1.3d;另 一次是纵波扩散声束在一柱体面上发生波形转换，形成等腰三角形， 其声程为 1.67d。48、按JB3963-85标准的规定，检验探伤面是曲面的锻件时，什 么情况下可不作曲面补偿？答：（1）采用曲率与工件相同或相近，（0.71.1倍）的参考试 块校正灵敏度，或（2）采用NR/4 （R为工件半径）的小直径晶片的探头进行探 伤。49、按JB3963-85标准的规定,锻件探伤结束重新校准灵敏度时， 如发现灵敏度有变化，应如何处理？答：（1）如增益电平降低2db以上，应在灵敏度校准后，对上一 次校准以来所有检查的锻件进行重新探伤。（2）如增益电平升高2db以上，应对上一次校准以来所有记录 的信号进行重新评定。50、焊缝检验中，“一次波法”与“直射法”是否为同一概念？ 答：是同一概念。“一次波法”是指在斜角探伤中，超声束不经工件底面反射而直 接对准缺陷的探测方法，亦称为直射法。探头的移动范围一般为 0-0.5 跨距，焊缝实际扫查中，往往从焊缝边缘起移动到超过0.5 跨距一定 距离。51、有人说，焊缝检验中的“一次波法”与“一次反射法”是一 回事。这种说法对吗？答：不对。“一次反射法”又称“二次波法”，是指在斜角探作中，超声束 在工件底面只反射一次而对准缺陷的探测方法。探头移动范围一般为 0.5-1 跨距。实际检验中厚板焊缝时，往往一、二次波法联合使用， 故探头应从焊缝边缘起移动到超过 1 跨距一定距离。52、“前沿距离”这一术语是否表示缺陷前沿距离？ 答：不是。“前沿距离”表示从斜探头入射点到探头底面前端的距离。是斜 探头的参数之一。“缺陷前沿距离”表示从斜探头前端到缺陷在探伤面上投影点的 距离，有时它可代替“水平距离”作为缺陷的一个位臵参数，在国内 也常称其为“简化水平距离”。53、“水平距离”与“探头焊缝距离”在数值上相等吗？ 答：除非缺陷定位在焊缝中心线上，否则一般两者在数值上并不 相同。“水平距离”亦称“探头缺陷距离”，表示从斜探头入射点到缺 陷在探伤面投影点的距离。它是缺陷的位臵参数之一。“探头焊缝距离”表示在探伤面上从斜探头入射点到焊缝中心线 的距离，比较两者的数值，可以得出缺陷相对于焊缝中心线的位臵， 有助于对缺陷的识别。54、简述焊缝探伤中，选择探头K值应依据哪些原则？答：探头 K 值的选择应从以下三个方面考虑：（1）能使声束扫查到整个焊缝截面。（2）能使声束中心线昼与焊缝中主要缺陷垂直。（3）保证有足够的探伤灵敏度。55、焊缝探伤时，斜探头的基本扫查方式有哪些？各有什么主要 作用？答：锯齿形扫查：是前后、左右、转角扫查同时并用，探头作锯 齿形移动的扫查方法。可检查焊缝中有无缺陷。左右扫查：探头沿焊缝方向平行移动的扫查方法，可推断焊缝纵 向缺陷长度。前后扫查：推断缺陷深度和自身高度。 转角扫查：判定缺陷方向性。前后、左右、转角扫查同时进行，可找到缺陷最大回波，进而判 定缺陷位臵。环绕扫查：推断缺陷形状。 平行、斜平行扫查及交叉扫查：探测焊缝及热影响区横向缺陷。 串列式扫查：探测垂直于探伤面的平面状缺陷。56、什么是距离波幅曲线？简述 GB11345-89 标准“距离波 幅”曲线的组成及作用？答：描述某一反射体回波高度随距离变化的关系曲线称为距离 波幅曲线。GB11345-89 标准采用的反射体为直径 3 横孔，距离波幅曲线 由判废线（RL）、定量线（SL）和评定线（EL）组成。其主要作用是：（ 1）调整探伤灵敏度；（ 2）判定缺陷大小，为评定缺陷提供依 据。（ 3）比较缺陷大小。57、GB11345-89 标准规定的缺陷指示长度的测定方法有几种？ 各用于什么情况？答：(1)降低6db法：缺陷反射波高位于II区，当缺陷反射波只 有一个高点时，用降低6db法测定缺陷指示长度。(2)端点峰值法：缺陷反射波高位于II区，且波峰起伏变化有 多个高点时，用端点峰值法测定缺陷指示长度。( 3)绝对灵敏度法。采用串列扫查法探伤时，最大反射波幅位 于II区的缺陷，用绝对灵敏度法测定缺陷指示长度。测长灵敏度为评 定线灵敏度。58、板厚T=66mm的钢制压力容器对接焊缝，按GB11345-89标准 作B级检验，试综述哪些缺陷按II级验收不合格？答：现以B级灵敏度探伤为例作解答。(1 )缺陷反射波幅直径34db。(2 )缺陷反射波幅直径310db,且缺陷指示长度大于44mm。(3 )缺陷反射波幅直径310db，且缺陷指示长度小于44mm 的缺陷，如缺陷间距小于8mm，累计的指数长度大于44mm。(指示长 度小于10mm，按5mm计)。( 4)被探伤人员判定为裂纹等危害性的缺陷。