《数字系统测试技术》PPT课件.ppt

,第8章 数据域测试技术,8.1 数据域测试原理概述 8.2 逻辑分析仪 8.3 可测性设计 8.4 数据域测试的应用,8.1 数据域测试原理概述,8.1.1 数据域的基本概念,1.数据信息-数据流,在数据域测试中首先要明确所测试的信号是什么？,信息只有两种逻辑状态的二进制符号（“1”/“0”或高/低电平）。,数据字多位二进制信息组合构成的一个“数据”。,数据流大量数据字有序的集合。,数据流的显示方式,2.数字系统的特点,(1)数字信号通常是按时序传递的；,(2)信号几乎都是多位传输的；,(3)信息的传递方式是多种多样的；,(4)数字信号的速度变化范围很宽；,(5)信号往往是单次的或非周期性的；,(6)数字系统故障判别与模拟系统不同。,3 数据域测试的任务与故障模型,数据域测试的任务及相关术语,3.被测对象与测试方法,数据域测试按被测对象可分为：,(1) 组合电路测试，通常有敏化通路法、D算法、布尔差分法等。,(2) 时序电路测试，通常采用迭接阵列、测试序列（同步、引导 和区分序列）等方法。,(3) 数字系统测试，如大规模集成电路，常用随机测试（用伪随 机序列信号作激励）技术、穷举测试技术等。,4 故障模型,故障的模型化与模型化故障,（1）固定型故障（Stuck Faults ）,固定1故障(stuck-at-1)，s-a-1 固定0故障(stuck-at-0)，s-a-0,（2）桥接故障（Bridge Faults ）,桥接故障:两根或多根信号线间的短接故障,（2）桥接故障（Bridge Faults ）,（3）延迟故障（Delay Faults ）,延迟故障:电路延迟超过允许值而引起的故障 时延测试验证电路中任何通路的传输延迟不超 过系统时钟周期,8.1 数据域测试原理概述,8.1.2 组合电路测试方法简介 1 敏化通路法 2 布尔差分法,1 敏化通路法,通路和敏化通路,（1）敏化通路法,a f y 01 01 01 10 10 10,故障a fy:故障传播或前向跟踪,一致性检验或反相跟踪,电路的敏化过程,8.1.2 组合逻辑电路测试方法,通路敏化基本原理：从故障点选择某条通路到达电路的任一原始输出，如果给这条通路上的一些门的输入指定相应的信号值，以便使故障信号沿所选通路传播到输出，就认为该通路被敏化了。,1 敏化通路法,故障传播和通路敏化的条件,通路内一切与门和与非门的其余输入端均应赋于“1”值，而一切或门和或非门的其余输入端应赋于“0”值。,有扇出电路的敏化过程,1 敏化通路法,单通路敏化成功，双通路敏化失败的例子,（111）不是x2：s-a-0的测试矢量 （110）和（011）是x2：s-a-0的测试矢量,1 敏化通路法,Schneider提出的反例证明某些故障只通过一条通路不可能敏化成功，必须同时沿两条或两条以上的通路才能成功敏化,同时沿G6G9G12 和G6G10G12 敏化方可成功 G6（s-a-0）的测试:(x1x2x3x4)=(0000),1 敏化通路法,扇出对敏化通路的影响，三种情况： 单通路和多通路都产生测试矢量 仅单通路能产生测试矢量 仅多通路能产生测试矢量,小结, Schneider反例说明一维敏化不是一种算法,对一特定故障寻找敏化通路时，还应考虑同时敏 化多个单通路的可能组合-多维敏化,对于多维敏化 ，必须寻球一种真正的算法 - D算法,2 布尔差分法,用数学方法来研究故障的传播 优点：普遍性、完备性、严格、简洁、明晰 可以用于多输出电路及多故障的测试,对布尔函数f(x)=f(x1,x2,xn)，定义,2 布尔差分法, 对一逻辑函数f(X)，xiX, X=(x1,x2,xn)，用符号fi()表示xi=(0,1)时f(X)的值，则,有一个组合逻辑系统：f(x)=f(x1,x2,xi,xn),如果布尔表达式,成立,则表明系统内部任何一个节点xi（或主输入）上信号的逻辑值的变化能使输出端y的逻辑值作相应的变化，从而可根据y的变化来测试出xi的变化，以达到对xi故障测试的目的,2 布尔差分法,定义,为函数f相对于变量xi的一阶布尔差分,2 布尔差分法, 侦查故障xi=s-a-1和故障xi:s-a-0的测试矢量集 分别用T1和T0表示为,2 布尔差分法,如果h是逻辑变量X的函数，而f又是变量h和X的函数，则测试故障h：s-a-1和h：s-a-0的测试矢量集分别为,2 布尔差分法,举例：求侦查下图中故障x1:s-a-1，x1:s-a-0，h:s-a-1的测试矢量集,解：写出f的逻辑表达式,2 布尔差分法,求f相对变量x1的一阶布尔差分,侦查故障x1:s-a-1和x1:s-a-0的测试矢量集分别为,2 布尔差分法,T1=（0100，0101，0110，0111） T0=（1100，1101，1110，1111）,求f相对于变量h的布尔差分,因为fh(1)=x1x2，fh(0)=1,所以,检测故障h：s-a-1的测试矢量为,h:s-a-1的测试集为T1=（0000，1000）,8.1数据域测试原理概述,8.1.3 时序电路测试方法简介 1 迭接阵列,8.1.3 时序电路测试方法简介,时序逻辑电路的测试比组合电路困难,时序电路中存在反馈，对电路的模拟、故障的侦查和定位带来困难,时序电路中， t时刻的输出响应，既取决于t时刻的输入，又取决于在此以前的输入，甚至可能与从初始状态一直到时刻t的所有输入都有关系,时序电路的存贮作用往往使电路中一个单故障相当于组合电路中的多故障，测试时序电路中一个故障不再是单个简单的测试矢量，而需要一定长度的输入矢量序列,8.1.3 时序电路测试方法简介,时序电路的测试生成需特别考虑,既要处理逻辑相关性又要处理时序相关性,需要特别处理诸如时钟线、反馈线、状态变量线等连线,需要建立全电路正确的时序关系,采用可测试设计和内建自测试技术可显著提高时序 电路测试效率,1 迭接阵列,用于建立时序电路的组合化模型 原理：将时序电路各时段上的函数关系 空间上的函数关系 组合电路的D算法等生成测试矢量,时序电路的一般模型,1 迭接阵列,阵列单元模型,形成：把反馈线断开，把某时刻的电路展开成一个阵列单元。阵列单元的输入是主输入X(j)和现态y(j)，输出是主输出Z（j）和次态y（j+1），把1，2，k各时刻的阵列单元串接起来，就组成一个迭接阵列模型。,缺点：对大型时序电路，计算量太大,8.1数据域测试原理概述,8.1.4 随机测试和穷举测试简介 1 随机测试技术 2 穷举测试技术,1 随机测试技术,（1）原理概述,确定为达到给定的故障覆盖所要求的测试长度 对所给定的测试长度，估计出能得到的故障覆盖,随机测试技术-一种非确定性的故障诊断技术，它是以随机的输入矢量作为激励，把实测的响应输出信号与由逻辑仿真的方法计算得到的正常电路输出相比较，以确定被测电路是否有故障。,伪随机测试-借助伪随机序列进行随机测试的方法, 关键问题,1 随机测试技术,（1）原理概述, 随机测试和伪随机测试的优缺点,优点：测试生成简单,缺点：一般难以保证100%的故障覆盖率，测试序列通常较长，测试的时间开销较大,1 随机测试技术,（2）伪随机序列发生器,常见的伪随机序列-m序列,产生m序列的两种电路-线性反馈移位寄存器和细 胞自动机,线性反馈移位寄存器（LFSR）,hi=1，表示接通反馈线；hi=0，表示断开反馈线,1 随机测试技术,线性反馈移位寄存器（LFSR）,反馈系数hi在二元域上定义的多项式,h(x)= xn+h1xn1+hn-1x+1,称为该线性反馈移位寄存器的特征多项式,既约多项式,本原多项式f(x)-为一既约多项式，且能整除多项 式,而不能整除任何幂次低于2n1的任何,多项式,以n次本原多项式为特征多项式的LFSR可产生周期为2n1的伪随机序列-m序列,8.1数字系统测试的基本原理,8.1.4 随机测试和穷举测试简介 1 随机测试技术 2 穷举测试技术,2 穷举测试技术,定义-一个组合电路全部输入值的集合，构成了该电路的一个完备测试集。对n输入的被测电路，用2n个不同的测试矢量去测试该电路的方法叫穷举测试方法,穷举测试方法的优点,对非冗余组合电路中的故障提供100%的覆盖率,测试生成简单,穷举测试方法的缺点-对多输入电路，测试时间过长,穷举测试法一般用于主输入不超过20的逻辑电路,穷举测试技术,2 穷举测试技术,伪穷举测试技术,伪穷举测试的基本原理-设法将电路分成若干子电路，再对每一个子电路进行穷举测试，使所需的测试矢量数N大幅度减少，即N2n（n为电路主输入）,如何对电路进行分块以尽可能减少测试矢量数目是伪穷举测试的基本问题之一,2 穷举测试技术,伪穷举测试的举例,8.1 数字系统测试的基本原理,8.1.5 数据域测试系统 1 系统组成 2 数字信号激励源,简易逻辑测试设备,逻辑电平测试,逻辑触发器 又称逻辑探头，他是一个多位的数字比较器，他把输入的多路信号与设置的触发字相比较，如果相同就产生触发信号。逻辑触发器与示波器相配合，就可以实现用数据字触发，通过示波器观测数据流中感兴趣的部分内容。,系统组成,数据域测试系统的组成,数据域测试系统框图,（1）通用数字信号源,作用和功能,为数字系统的功能测试和参数测试提供输入激励信号,产生图形宽度可编程的并行和串行数据图形,产生输出电平和数据速率可编程的任意波形,产生可由选通信号和时钟信号控制的预先规定的数据流,1、数字信号源,通用数字信号源的结构,数据的产生,序列存储器在初始化期间写入了每个通道的数据，数据存储器的地址由地址计数器提供。在测试过程中，在每一个作用时钟沿上，计数器将地址加1,多路器可将多个并行输入位转换成串行数据流。对于低速的数字信号源，多路器可以不要，从数据的每个数输出可直接产生一个串行数据流,格式化器将数据流与时钟同步,格式化器的输出直接驱动输出放大器，放大器的输出电平可编程,（2）产生确定的数字信号,确定信号流的数字信号发生器框图,确定数字信号发生器组成：微处理器、数据发生、时钟及时序电路、加速及驱动。 产生方式：硬件为主、软件为主。 图形库：根据需要存储某些测试图形，库中的数据可供调用、拼装等应用。 时钟及时序电路：满足严格的定时及时序关系，常为多时钟工作。 加速驱动：满足存储、工作速度及各种驱动要求。,（3）产生伪随机信号的数字信号发生器,伪随机信号用带有反馈的移位寄存器来产生。,四位线性反馈移位寄存器实例,2、特征分析仪,采用特征分析技术的必要性,对各节点逐一地测试与分析使测试成本巨增,受封装的限制，从多节点观察测试响应受到限制,内测试的需要,特征分析技术-从被测电路的测试响应中提取出“特征” ，通过对无故障特征和实际特征的比较进行故障的侦查和定位,特征分析,由LFSR构成的单输入特征分析器,若hi=0 表示连线断开，若hi=1，表示连线接通,特征分析,特征分析技术具有很高的检错率 当测试序列足够长时，特征分析的故障侦出率不低于,，m为用作特征分析的LFSR的长度。当m=16 时，故障侦出率高达99.998%,由LFSR构成的多输入特征分析器(MISR),特征分析仪主要用于现场设备的检测，他的核心部件是伪随机二进制序列发生器，其结构如下：,伪随机二进制序列发生器检测P(X),特征分析,特征分析仪,串行特征分析仪组成框图如下：,特征分析仪基本框图,（2）特征分析应用,基于特征分析的数字系统故障诊断原理,被测电路的无故障特征或某种故障下的特征可通过电路的逻辑模拟或故障模拟获得。通过事前的模拟建立好特征-故障字典，便可用于故障诊断。,3、逻辑分析,逻辑分析用于测试和分析多个信号之间的逻辑关系 及时间关系,逻辑分析仪的特点,通道数多,存储容量大,可以多通道信号逻辑组合触发,数据处理显示功能强,8.2 逻辑分析仪,主要内容: 逻辑分析仪的特点与分类 逻辑分析仪的基本组成原理 逻辑分析仪的触发方式 逻辑分析仪的采样方式 逻辑分析仪的显示方式 逻辑分析仪的主要技术指标与发展趋势,8.2.1 逻辑分析仪的特点与分类,1. 逻辑分析仪的特点:,输入通道多 数据捕获能力强,具有多种灵活的触发方式 具有较大的存储深度,可以观察单次或非周期信号 显示方式丰富 能够检测毛刺,2. 逻辑分析仪的分类:,按工作特点分类: (1) 逻辑状态分析仪 (2) 逻辑定时分析仪 按结构特点分类: (1) 台式逻辑分析仪 (2) 便携式逻辑分析仪 (3) 外接式逻辑分析仪 (4) 卡式逻辑分析仪,台式逻辑分析仪,TLA 612,便携式逻辑分析仪,卡式逻辑分析仪,外接式逻辑分析仪,Agilent E9340A,8.2.2 逻辑分析仪的组成原理,逻辑分析仪的组成结构如图所示，它主要包括数据捕获和数据显示两大部分。,逻辑分析仪原理结构,8.2.3 逻辑分析仪的触发方式,数据流：逻辑分析仪对被测信号连续采样获得的一系列数据。,触发：用来在数据流中选择对分析有意义的数据块，即在数据流中开辟的一个观察窗口。 跟踪：窗口中的全部数据称为一个跟踪。即逻辑分析仪采集并在显示器上显示出来的一组数据。 触发决定跟踪在数据流中的位置。,1 组合触发,组合触发：多通道信号的组合作为触发条件，即数据字触发。 每个通道的触发条件可为： “ 1 ” “ 0 ” “ x ” 如：8个通道的组合触发条件设为：“011010X1” 则：该8个通道中出现数据： 01101001 或01101011 时均触发,基本的 触发跟踪方式：,始端触发： 指逻辑分析仪在被触发是的数据为 存储、显示的第一个有效数据,触发终止跟踪： 触发以前，逻辑分析仪就向存储器中 以先进先出的方式存储数据。当存储 器存满以后，逻辑分析仪才开始搜索 触发字，与此同时仍继续用新的数据 更新旧的数据，一旦发现触发字，立 即停止存储,2 延迟触发,在数据流中搜索到触发字时，并不立即跟踪，而是延迟一定数量的数据后才开始或停止存储数据，它可以改变触发字与数据窗口的相对位置。,3 手动触发（随机触发）,无条件的人工强制触发，因此观察窗口在数据流中的位置是随机的。,4 限定触发,5 触发的识别,触发的识别是靠触发识别器来实现的。对于字触发，识别器把输入的数据字与预先设定的触发字进行比较，两者符合，即产生触发。对于事件触发，则对符合的次数进行计数，达到预置的计数值才产生触发。,8.2.4 逻辑分析仪的数据获取和存储,1.输入探头,若高于阈值则输出为逻辑“1”，反之则为逻辑“0”。为检测不 同逻辑电平的数字系统（如TTL、CMOS、ECL等），门限电平可以调节，一般是-10+10V。,2.数据捕获,从数据探头得到的信号，经电平转换延迟变为TTL电平之后， 在采样时钟的作用下，经采样电路存入高速存储器。,这种将被测信号进行采样并存入存储器的过程就称为数据的捕 获。在逻辑分析仪中，数据捕获的方式通常有以下两种：,（1)采样方式,该方式是在采样时钟跳变沿上，对探头中比较器输出的逻辑电 平进行判断：比较器的输出和采样输出是不一样的，比较器的 输出决定于被测波形的电平值，而采样输出不仅受被测波形影 响，而且还取决于采样脉冲到来的时刻。由数字逻辑电路知识 可知，用D触发器则可完成这个采样过程。,采样过程及波形,由于采样时钟是对电平判别的输出信号进行采样。他只反映高、低两种电平，而不能反映原输入信号的幅度。 采样后的输出波形，只能在选择的时钟作用沿上才能发生跳变，而对两个时钟作用沿之间的波形变化不予理睬，因此，输入波形与判别电平相交的时刻并不严格等于存储显示信号电平跳变时刻,3) 同步采样和异步采样,同步采样：采用被测系统时钟脉冲作采样脉冲的采样方式；,同步采样能够保证逻辑分析仪按被测系统的节拍工作，获取一序列的有意义的状态。这种采用外时钟、用于分析被测系统逻辑状态的分析仪叫逻辑状态分析仪。,由于逻辑分析仪内部时钟频率一般较被测系统高得多，这样使单位时间内得的信息量增多，提高了分辨力，从而显示的数据更精确。异步采样可以检测出波形中的“毛刺”干扰，并将它存储到存储器中记录下来。,异步采样：使用其内部产生的时钟对被测系统的输入数据进行 采样的方式。,3.数据存储,逻辑分析仪的存储器主要有移位寄存器和随机存储器（RAM） 两种。移位寄存器每存入一个新数据，以前存储的数据就移位 一次，待存满时最早存入的数据就被移出。随机存储器是按写 地址计数器规定的地址向RAM中写入数据。每当写时钟到来时， 计数值加1，并循环计数。因而在存储器存满以后，新的数据将 覆盖旧的数据。可见这两种存储器都是以先入先出的方式存储 的。,对于普遍采用的随机存储方式，逻辑分析仪的数据存储电路框图如下：,始端触发,始端触发，一旦进入存储阶段，触发识别电路就从输入的数据中寻找触发字，当满足条件时，产生触发信号。若同时采用延迟触发，则需经过数字延迟电路才产生延迟触发信号。有效触发信号加至开始触发器产生触发，从这是起存入RAM的数据就是有效数据。触发瞬间，开始触发器还命令存储计数计数。当计数指等于RAM的存储容量是，向终止触发器发出信号，终止触发器就给写时钟控制器发“禁止”信号，关闭写时钟。,搜索触发字产生触发信号判断存储器是否满终止写入,终端触发，开始存入数据时，触发识别电路并不搜索触发字，而是复位后由开始触发器启动存储计数器现行计数。当计数值等于存储容量时才命令触发识别电路搜索触发字，当触发被识别并经数字延迟之后，产生有效触发信号，一旦产生有效触发信号，终止触发器就给写时钟控制器发“禁止”信号，关闭写时钟，停止存储。,终端触发数据存储,先计数直至存储容量满再搜索触发字产生触发信号终止写入,8.2.4 逻辑分析仪的显示方式,把每个通道的信号用分为0、1两种状态，按离散的时间序列显示出来，多个通道同时显示。 定时图显示用逻辑定时分析仪，多用于硬件分析。,1 定时图显示,2 状态表显示,将每个通道采集到的值组合成数据，按采样顺序显示。 逻辑分析仪可以用二进制状态表显示，也可用8、10、16等不同数制显示 状态表显示主要用于逻辑状态分析仪，多用于软件分析。,3.反汇编显示,只是观察数据列表中的数据流来分析系统工作很不方便，多数 逻辑分析仪提供了另一种有效的显示方式，即反汇编方式。这 样可以非常方便地观察指令流，分析程序运行情况。表9.1是将 某微机系统总线数据采集后，按照其指令系统反汇编的结果。,反汇编显示,4.图解显示,图解显示是将屏幕X、Y方向分别作为时间轴和数据轴进行显示 的一种方式。它将要显示的数据通过D/A转换器变为模拟量， 按照存储器中取出数据的先后顺序将转换所得的模拟量显示在 屏幕上，形成一个图像点阵。,8.2.5 逻辑分析仪的技术指标及发展趋势,1 主要技术指标,定时分析最大速率。 状态分析最大速率。 通道数。 存储深度。 触发方式。 输入信号最小幅度。 输入门限变化范围。 毛刺捕捉能力。,逻辑分析仪的主要技术指标说明,(1)定时分析最大速率 逻辑分析仪工作在定时分析方式时的最大数据采样速率，可以是实际的采样时钟最高频率，也可以是等效采样速率。通常200MHz1GHz，,(2)状态分析最大速率 工作在状态分析方式时，外部时钟可以输入的最大频率。通常50200MHz。,(3)通道数 逻辑分析仪信号输入通道数量，它包括数据通道和时钟通道。通道越多，我们可以同时观测的信号就越多。,(4)存储深度 每个通道可以存储的数据位数，单位为比特（B）/通道，一般为几KB至几十KB。,(5)触发方式 逻辑分析仪的触发方式越多，其数据窗口定位就越灵活。,(6)输入信号最小幅度 逻辑分析仪探头能检测到的输入信号最小幅度。,(7)输入门限变化范围 探头门限的可变范围，一般为-10V10V，其可变范围越大，则可测试的数字系统逻辑电子种类越多。,(8)毛刺捕捉能力 逻辑分析仪所能检测到的最小毛刺脉冲的宽度。,2 发展趋势,分析速率、通道数、存储深度等技术指标也在不断提高 功能不断加强。 与时域测试仪器示波器的结合 ，提高混合信号分析能力 向逻辑分析系统（Logic Analyze System）方向发展。,8.2.6 逻辑分析仪的应用,逻辑分析仪是数据测试中最典型、最重要的工具，他在计算机、微型计算机产品化和数字系统中的应用越来越广。,一、逻辑定时分析仪的基本应用 逻辑定时分析仪主要用于分析数字电路、微型计算机和微机化产品中各路信号间的逻辑关系和定时关系，它是数字系统中硬件分析的主要工具。,（一）定时分析仪的应用特点 1、定时仪的采样存储 （1）采样时钟 定时仪通常选用逻辑分析仪的内时钟进行采样，与被测系统异步工作。因此，时钟选择比较简单。但由于逻辑分析仪内部时钟变化范围很宽，应选择内时钟频率为被测信号频率或相当最窄观测脉冲对应频率的510倍。在用定时仪观测波形时，内时钟周期越短，捕获信号流的范围也越小。,（2）毛刺检测 数字系统中，把持续时间小于采样周期的窄脉冲叫作毛刺。他是由于外界的干扰或各路信号间经过不同的路径时延迟时间不同、有关信号时间关系配合不好造成的。是造成硬件故障的重要原因。 毛刺的检测，采用在每个通道的输入信号通道上加一毛刺检测电路，将毛刺检测出来加以存储，当需要显示时，在显示器上用加亮的方式显示。显示方式主要有锁定方式、毛刺方式,2、定时仪触发 定时仪也常采用字触发，也可采用始端、终端触发或加一定的延时。 而毛刺触发是定时仪的独有特性，毛刺触发可以设定某路或几路信号中一旦出现毛刺即触发。这样定时以就长期监视被测电路，一旦出现所关心的毛刺信号，就通过触发捕捉当时的情况，以便分析毛刺影响。,3、定时仪显示 定时仪只能采用定时图一种方式显示，此方式下，可分为同时显示毛刺和不显示毛刺两种情况。 在定时图中，用类似方波的伪波形显示采样值的高低电平。定时仪中采样时钟等时间间隔地出现，因此，显示的图形能反映采样逻辑电平值与时间的关系。,8.2.6 逻辑分析仪的应用,逻辑分析仪检测被测系统，是用逻辑分析仪的探头检测被测系统的数据流，通过对特定数据流的观察分析，进行软硬件的故障诊断。,1.逻辑分析仪在硬件测试及故障诊断中的应用,给一数字系统加入激励信号，用逻辑分析仪检测其输出或内部各部分电路的状态，即可测试其功能。通过分析各部分信号的状态，信号间的时序关系等就可以进行故障诊断。,硬件测试及故障诊断框图,先让数据发生器低速工作采集到的ROM作为标准数据，然后逐步提高数据发生器的计数时钟频率，将每次采集到的数据与标准数据相比较，直到出现不一致为止，此时时钟频率即为ROM的最高工作频率。,例1 ROM最高工作频率的测试,例2 译码器输出信号及毛刺的观察,逻辑分析仪工作在毛刺锁定方式下，在波形窗口中开启毛刺显示，即可观察到译码器输出端上的毛利，如下图所示。,毛刺的标记，表示此时该信号上出现了窄脉冲，可能会引起电路工作的不正常。,二、逻辑状态分析仪的应用 逻辑状态分析仪常用来分析计算机软件。他是跟踪、调试程序，处理各种原因引起的软件故障的有力工具。,（一）状态分析仪的应用特点,1、时钟选择 状态分析仪采用外时钟作为采样时钟，与被测系统是同步的。时钟选择时，要求使用者对被测系统工作情况有一定的了解。 选择原则：在选择时钟的跳变沿上，被监视的所有信号都应处于有效状态,2、可以对采样时钟进行限定 逻辑状态分析仪可限定条件来决定哪些时钟是有效的，进而达到挑选数据的目的。,3、触发字的选择和序列触发 状态分析仪常用来分析软件，因此常选择计算机的地址线或数据线上的特定位作为触发字。 序列触发：按顺序确认一系列事件均发生后才进行触发。是状态分析仪独有的一种触发方式，他给状态仪分析复杂的程序带来方便。,4、可检测的最小脉冲宽度和最高工作频率,2.逻辑分析仪在软件测试中的应用,逻辑分析仪也可用于软件的跟踪调试，发现软硬件故障，而且通过对软件各模块的监测与效率分析还有助于软件的改进。在软件测试中必须正确地跟踪指令流，逻辑分析仪一般采用状态分析方式来跟踪软件运行。,分支程序的跟踪,例如，程序中包含了许多子程序及分支程序，可以将分支条件或子程序入口作为触发字，采用多级序列（可达十六级以上）触发的方式，跟踪不同条件下程序的运行情况。下图是一个具有两个分支的程序。,8.2.7 误码率测试 在数字通信系统中，误码率是一个非常重要的指标。 1误码率概念 误码率定义: 二进制比特流经过系统传输后发生差错的概率。 测量方法： 从系统的输入端输入某种形式的比特流，用输出，与输入码流比较，检测出发生差错的位数，差错位数和传输的总位数之比为误码率。,2误码测试原理,误码仪由发送和接收两部分组成，发送部分的测试图形发生器产生一个已知的测试数字序列，编码后送入被测系统的输入端，经过被测系统传输后输出，进入接收部分解码；接收部分的测试图形发生器产生相同的并且同步的数字序列，与接收到的信号进行比较，如果不一致，便是误码；用计数器对误码进行计数，然后记录存储，分析后显示测试结果。,（1）测试图形,一般测试图形选用伪随机二进制序列来模拟数据的传输，或用特殊的字符图形来检查图形的相关性和临界效果时间效应。 根据特征多项式，使用异或门和移位寄存器即可产生伪随机序列信号 例 511码，特征多项式为,（2）误码检测,基本的误码检测电路是异或门，当两个数据图形完全相同且同步时，异或门输出为0；当接收的数据流中某位出现错误时，异或门输出为1。,错误位,误码分析和数据记录,误码仪除检测出误码，并计算出误码率外，还应对测量数据进行分析，如根据不同误码率占总测量时间的百分比，确定被测系统的工作状况。 为了进行测试结果的分析，误码检测仪必须记录大量的测量数据和误码事件，误码性能的测量可能需要运行几个小时或者几天，以积累有意义的统计结果。测试仪在绝大数时间是无人看管而自动工作的。所以数据记录常采用非易失性存储器存储。,